新型ウィルソン® ダイヤメットTMソフトウェア

新型ウィルソン® ダイヤメットTMソフトウェアは、硬度試験の簡便性を世界無比のレベルへと高めます。
新型ウィルソン® ダイヤメットTMソフトウェアは、硬度試験の簡便性を世界無比のレベルへと高めます。 Image ビューラー (www.buehler.com) は現在、広範囲に改良された新型ダイヤメットTMソフトフェアで、国際的に一貫した、よりユーザーに優しいウィルソン® 硬度試験装置用ソリューションを提供しています。マウスやタッチスクリーンで操作するように設計されているこのシステムは、熟練ユーザーが必要とするフレキシビリティーと、プランニング・稼働・分析・個々の測定及び一連の測定の記録作成・アーカイブ保管等の幅広い機能を提供し、同時に訓練経験が少ないオペレーターでも素早く効率的に作業できるようになります。2016年1月に発売された新バージョンには、溶接部硬度分布や従来の硬化プロセスで処理された、誘導硬化した加工中の製品や物の硬化層の深さの記録作成等、特定アプリケーションを促し、時間短縮するように設計された機能が含まれています。このように、新ダイヤメットソフトウェアは、広範囲の試験プログラム処理の最大限の自動化と共に高精度を要するアプリケーション等、あらゆる意味で製造関連環境における工業用硬化測定要件を満たします。

ダイヤメットは、ISO 6507, ISO 4545, ASTME384, ISO 6506, ASTME10 に従ってマクロビッカース、ミクロビッカース、、ヌープ及びブリネルインデントを評価するように最適化されており、現在のウィルソン® VH と及びUH 硬度計シリーズの全型式、そして特定のレガシーシステムと連携するように設計されています。

溶接点の硬度試験の要件は、ISO 9015 や ISO 15614 等の基準に沿って記録作成します。試験荷重、母材・熱影響層・接合部のインデント数、及びそれぞれのインデントと溶接接合面からの深さの距離が記載されます。このような試験要件を履行するためには、慣例上設定に時間がかかったり熟練のオペレーターを要したりしますが、これは単に完全に同じ溶接試料がないだけではありません。新バージョンのダイヤメット試験ソフトウェアは、十分にこのプロセスを容易にします。わずか2~3回のクリックで手持ちの試料に固定の試験パターンを適合させることで、設定プロセスを通じて厳密に基準に従うようにオペレーターを導きます。このソフトウェアは、試験報告書に使用されるインデントの位置や関連測定値を含む、完全溶接のグラフィック画像を作成します。

誘導加熱パーツへの試験パターンは1つ以上の連続した試験列から成り、一般的に簡単ですが、これらの配置・配列が誘導加熱パーツ硬化層の深さ測定を時間のかかるプロセスにしています。ダイヤメットソフトウェアは現在、これまで試験したことがあるどんな試料でも認識し、最初の測定で定義した順にインデント列を適用することが出来ます。ダイヤメットはパーツ配列を自動的に修正し、オペレーターが備品を使用したり、試料を完璧に配置したりする必要がなくなります。初期のユーザー経験により、試験に要する時間を半分にカットすることができます。

表面硬化プロセスの記録作成のカスタマイズ
ダイヤメットTMにより、標準の測定シーケンスを用いた高い反復性で、従来の表面硬化プロセスの硬度結果を素早く決定することが出来ます。硬化層深さの測定のために当該プログラムを事実上無限に設定・保存できる可能性のおかげで、新ダイヤメットソフトウェアは卓越したフレキシビリティーを提供します。このソフトウェアの最新バージョンは現在、要件変更に素早く反応する機能を提供しており、例えば高解像度を得たり、測定の信頼性を上げるためにインデントの追加したり試験列を全部増やしたりする等、標準プログラムは大急ぎで要件変更に適応することができます。逆に、例えば時間が足りない場合等、簡単なタッチやマウスによるクリックで、試験列の数をスケールダウンすることもできます。

国際ソフトウェアパックには複数の言語バージョンがあり、現行のウィルソン® ダイヤメットTMソフトウェアは、関連する国内外全ての硬度試験基準要件に対応している。ビューラー ITW 試験測定社の製品硬度マネージャー、Marcel van Banning は、次のようにコメントしています。「ダイヤメットは世界が考える硬度試験と同じです。国際的経営組織のユーザーは現在、測定が行われた場所に関わらず、世界各地で結果を共有・比較することができます。この新リリースにより、我々は、時間に依存する業務割り当ての場合も、詳細に亘る信頼できる結果を供給するツールを試験エンジニアへ提供しています。更に、高度なオートメーションにより、訓練経験の少ないスタッフでも包括的な一連の試験を行い、精度の高い結果を得ることが出来ます。」